Re: ARMy Geehy oficiálně v Česku

[wek]

[preposielam]


Dobry den,

ja by som sa chcel len spytat, podla akych aktualnych noriem sa dnes robi charakterizacia integrovanych obvodov na EMC/ESD a aka metodika sa pouziva na vyhodnotenie meranych dat? Viem, ze kedysi bola na meranie emisii MCU nejaka norma aj s testovacim setupom, ale aky je aktualny stav, to netusim. Je to len pre moje info a  na doplnenie literatury ku doktoranture spisanej v zosite, ktory je ulozeny v sufliku. :) Ked Vas to nezatazi, budem Vam povdacny.


A.


>>>

Omlouvam se ze vytahuji ponekud stare tema ale konecne si kolega nasel cas na EMC/ESD testy APM32. K hodnotam uvadenym v jejich datasheetech (ktere me i kolegy slibovanou odolnosti prekvapily) maji vysledky mereni pomerne dost daleko. Oni maji dost daleko i k tem pesimistictejsim hodnotam ktere Geehy pouze prevzalo z originalnich dokumentu.

------------- další část ---------------
HTML příloha byla odstraněna...
URL: <http://list.hw.cz/pipermail/hw-list/attachments/20221214/5319ea76/attachment.htm>