<!DOCTYPE html><html><body>[preposielam]<br><br><br>Dobry den,<br><br>ja by som sa chcel len spytat, podla akych aktualnych noriem sa dnes robi charakterizacia integrovanych obvodov na EMC/ESD a aka metodika sa pouziva na vyhodnotenie meranych dat? Viem, ze kedysi bola na meranie emisii MCU nejaka norma aj s testovacim setupom, ale aky je aktualny stav, to netusim. Je to len pre moje info a na doplnenie literatury ku doktoranture spisanej v zosite, ktory je ulozeny v sufliku. :) Ked Vas to nezatazi, budem Vam povdacny.<br><br><br>A.<br><br><br>>>><br><br>Omlouvam se ze vytahuji ponekud stare tema ale konecne si kolega nasel cas na EMC/ESD testy APM32. K hodnotam uvadenym v jejich datasheetech (ktere me i kolegy slibovanou odolnosti prekvapily) maji vysledky mereni pomerne dost daleko. Oni maji dost daleko i k tem pesimistictejsim hodnotam ktere Geehy pouze prevzalo z originalnich dokumentu.<br><br></body></html>