Konstrukce Flashmetru-expozimetru

Milan MCM magixe@volny.cz
Pondělí Květen 8 19:36:09 CEST 2006


 >> Z článku

Při měření osvětlení ve fotografii se používá tzv. expozičních čísel, 
označovaných zkratkou EV. Každému expozičnímu číslu potom odpovídá 
určitá kombinace clony a času, při které je expozice optimální. Při 
zvýšení osvětlení o 1EV je potřeba přiclonit o jedno clonové čislo, 
resp. dvojnásobně prodloužit expozici. Měření ambientního světla je 
poměrně jednoduché. Nejprve je změřeno napětí U na fotodiodě, ze 
závislosti U/EV je napětí převedeno na clonové číslo, a z něj jsou na 
základě nastavené citlivosti filmu dopočítány odpovídajícíexpoziční 
hodnoty. Je možné měřit v modu Av, kdy je k hodnotě zadané clony 
dopočítán odpovídající čas, nebo v režimu Tv, kdy je k nastavenému času 
přiřazena odpovídající clona. Přesnost zobrazovaných údajů je volitelně 
1/3 EV nebo 1/2 EV. Citlivost filmu se zadává v dnes nejpoužívanější 
stupnici ASA (ISO). Při měření záblesku je periodicky měřeno napětí na 
fotodiodě a vyhodnocován rozdíl mezi následujícími měřeními. Pokud se 
objeví strmý vzrůst napětí, je považován za začátek záblesku a je 
následně provedeno několik měření, vypočítán jejich průměr a z něj je 
stejným způsobem jako u normálního světla vypočtena hodnota EV 
(přirozeně podle odlišné závislosti). Následně je ještě změřeno 
ambientní světlo a z jejich kombinace je dopočítána odpovídající clona. 
Pokud je rozdíl bleskového a ambientního světla menší než 1:7, je tento 
poměr graficky zobrazen. Aby všechno nebylo tak jednoduché, vykazuje 
fotodioda velkou teplotní závislost. Naštěstí je tato závislost v 
požadovaném rozmezí teplot lineární, takže pro její vykompenzování byla 
využita jednoduchá metoda - vedle fotodiody je umístěno teplotní čidlo, 
pomocí kterého je bezprostředně po odečtení napětí na foodiodě změřena 
její teplota a podle teplotní závislosti je zkorigováno změřené napětí.

 >>

Popsáno hezky ale jak to přepočítat či podle čeho ? - dá se to někde 
zjistit , nějaké materiály.




Další informace o konferenci Hw-list