Zivotnost flash

[Jan Waclawek]

>    First failed bit happened on cycle 229,038 ... A separate run on a separate device 
>    had a first bit failure around cycle 400,000. 
>
>Sice jen dva testy, tedy statisticky nevýznamné, ale stejnì, na Microchipem 
>deklarovaných 20 000 cyklù to vùbec není ¹patný :-) 

No, praveze to nehovori vobec nic, pretoze - ako bolo podotknute panom
kolegom Stenglom - to nehovori o tom, aka je retention po tych 20k
cykloch, len ze retention okolo 200k cyklov je v rade mikro/mili/sekund.

Podobny test som robil (nielen) ja na EEPROM v AVR
http://www.avrfreaks.net/forum/eeprom-endurance-and-pages , ucelom bolo
zistit strukturu (t.j. ci su jednotlive byte skutocne nezavisle).
Deklarovana endurance je 100k, prve "zlyhanie" som zistil okolo 7M, ale
znova to "zlyhanie" znamenalo, ze EEPROM neudrzala svoju hodnotu ani tych
par mikrosekund kym som ju po zapisani hned precital. Nijake zavery na
skutocnu endurance sa z toho robit nedaju. Ako zaujimavost je, ze to
"zabudanie" po poskodeni bolo vyrazne teplotne zavisle, stacilo prilozit
prst (tak sa napokon ten endurance/retention test aj v skutocnosti robi,
pri zvysenej teplote, pochopitelne nie na teplotu prsta ;-) , heslo je
Arrheniova rovnica).

wek