Self test - algoritmy

[jirka7a@seznam.cz]

Rychlejsi testy tak, ze vite jak je pamet organizovana a zkousite jen byte z 
prislusneho bloku. Samozrejme taky krizem, aby bylo zrejme, zda neni chyba v 
adresaci.
Tech testu je celkem dost, kde se muze projevit chyba napr. zapis FF vsude a 
nekde se neudrzi nebo obracene.

Kdyz jeste rychleji, tak to testuje jeste pomoci nahody tj. ne vzdy vse, ale 
jen cast.

Chce to chvilku hledat na inteu. Mozna se podivat na nejake hw testy a tam 
pisi, jake maji metody.

Jirka

----- Original Message ----- 
From: <ck@cbox.cz>
To: <hw-list@list.hw.cz>
Sent: Monday, July 16, 2007 11:19 AM
Subject: Re: Re: Self test - algoritmy


Dobry den,
souhlasim, ze zapis a cteni pametove bunky moc neprokaze. Nekde jsem cetl, 
ze nejcasteji byva chyba v dekoderu adres.
Potkal jsem MCU, ktery ignoroval nektere instrukce, po snizeni frekvence 
krystalu pod urcitou hranici fungoval OK.
Testy FLASH pameti pomoci CRC delame prubezne pri behu programu, zaroven to 
slouzi jako analyzator zatizeni procesoru.

Testy delame na specialnim pripravku - MCU mame jako vymenny modul. 
Pripojujeme porty k AD prevodniku pres odporove delice a krome stavu L/H na 
digitalnich vstupech merime i analogove hodnoty.
Komunikacni porty mame propojene po dvojicich do sebe a prohanime retezcem 
(I2C, UART1-UART2, CAN1-CAN2, SPI1-SPI2, I2C) testovaci zacrcovane datagramy 
pri ruznych komunikacnich rychlostech.
To asi nebude pro Vas pouzitelne.

Zdravim CK


"Milan" <milger@pobox.sk> napsal(a):
> Dam malu poznamku ku kontrole SRAM.
> Sa mi oplatil iny postup nez uvedeny. Hlavne ked je problem na adresnej
> zbernici, zapis rovnakych hodnot do buniek nic neriesi. Ja pouzivam
> SRAM(ADR)=ADRLxorADRHxorBANKA /ak je viac ako 64k/, zapisem celu SRAM a
> potom kontrolujem.
>
> Milan
> ----- Original Message ----- 
> From: "Michal HW" <michalgregor@centrum.cz>
> To: "HW-news" <hw-list@list.hw.cz>
> Sent: Monday, July 16, 2007 10:02 AM
> Subject: Re: Self test - algoritmy
>
>
> Nejlepe vsechno a na 100%. Zatim jsem dospel k tomuto:
> 1) po zapnuti zapnu na dve sekundy vsechny LEDky,
> 2) LCD zapnu vsechyn znaky
> 3) CRC FLASH
> 4) SRAM zapis/kontrola 0x55 a 0xAA
> 5) Externi UART - LOOP test.
>
> Michal Gregor
>
> ----- Original Message ----- 
> From: "Tomáš Hamouz" <hamouz@alsoft.cz>
> To: "HW-news" <hw-list@list.hw.cz>
> Sent: Monday, July 16, 2007 9:51 AM
> Subject: Re: Self test - algoritmy
>
>
> MH> Zdravim,
> MH> premyslim jak zkontrolovat zarizeni po zapnuti napajeni.
> MH> FLASH - asi CRC, SRAM - 128KB nejake testy jsem nasel ale je to moc
> pomale.
> MH> Da se zkontrolovat procesor?
>
> Které součásti na něm chcete kontrolovat?
> Jenom periférie, zda není třeba upálený vývod nebo i jádro?
>
> Tomáš
>
>
>
> _______________________________________________
> HW-list mailing list  -  sponsored by www.HW.cz
> Hw-list@list.hw.cz
> http://list.hw.cz/mailman/listinfo/hw-list
>
> _______________________________________________
> HW-list mailing list  -  sponsored by www.HW.cz
> Hw-list@list.hw.cz
> http://list.hw.cz/mailman/listinfo/hw-list
>
>
>
>
>
> _______________________________________________
> HW-list mailing list  -  sponsored by www.HW.cz
> Hw-list@list.hw.cz
> http://list.hw.cz/mailman/listinfo/hw-list
>
_______________________________________________
HW-list mailing list  -  sponsored by www.HW.cz
Hw-list@list.hw.cz
http://list.hw.cz/mailman/listinfo/hw-list