<!DOCTYPE html>

<html>

  <head>

    <meta http-equiv="Content-Type" content="text/html; charset=UTF-8">

  </head>

  <body>

    U signálových je to spíš naopak. Největší problém je neopotřebované

    relé:-)<br>

    <br>

    Na kontaktech může bejt vrstvička oxidu, kterou by 230 V spolehlivě

    prorazilo kdekoli, nebo 12V/1A by si od místa mechanického poškození

    dotáhlo oblouk do místa finální kontaktní polohy.<br>

    <br>

    Když ale chci sepnout 0,1 mV/0,1 nA, musí prostě dojít k přímému

    kontaktu kov-kov, pokud měřím DC, tak ještě nesmí nastat

    termočlánek, pokud AC tak zas ani náznak polovodiče.<br>

    <br>

    Test bych nedělal podle nějaké normy, ale podle U a I co  budu

    potřebovat reálně spínat a ještě bych tomu dal rezervu, tedy

    testoval na míň. A asi spíš hodně ks a méně často než naopak.<br>

    <br>

    Celkově mám v tomto ohledu radši MOSFETový optočleny, pokud nějaký

    okolnosti nebrání použití.<br>

    <br>

    PH<br>

    <br>

    <div class="moz-cite-prefix">Dne 08.10.2024 v 20:18 balu napsal(a):<br>

    </div>

    <blockquote type="cite"

      cite="mid:9B872358-5367-491F-A048-A4C0320E6B19@k-net.fr">

      <pre class="moz-quote-pre" wrap="">Zdravim osadenstvo, 

stretol sa niekto so standardizovanymi postupmi pre testovanie malisignalovych rele? Normy, applikacne poznamky, doporucenia… ako sa to robi standardizovanym sposobom, ktory poskytne porovnatelne vysledky. 

V datasheete vzdy pisu nieco na sposob “odpor kontaktov bol merany pri 10mA a 1V metodou ubytku napatia”. Nic viac. 

Aky je tam mechanizmus opottebenia ked nespinaju vysoky prud/napatie?

</pre>

    </blockquote>

  </body>

</html>