MPPT Re: Matika v MCU
RV
vicek.radek na cpost.cz
Středa Leden 2 13:44:14 CET 2013
Ta dioda se hreje normalni ztratou Uf*If - osadil jsem tam dve dvojite
BYV32, ktere maji sami o sobe velmi maly ubytek - tusim pod 1V pri 8A -
takze pri 20A na kazdou pripadne 5A. To je ztrata pod 10W na jedno TO220
pouzdro - to je pro me neprijatelne - proto rele.
Zkousel jsem pres ni (je tam ted osazena jen jedna dvojita) tlacit zatim
maximalne 1.5A a i bez chladice byla jen vlazna.
Co se tyka relatka - jelikoz vim kolik pres diody tlacim tak pokud bude
ztrata na diodach vetsi nez kolik bude prikon civky rele tak ho mohu z
MCU sepnout - kontakty nebudou namahane velkym napeti - sepnou jen
ubytek napeti na diodach. S konceptem to nema podle me co do cineni -
priznam se, ze tohle odsuzovani rele jako neceho archaickeho a
neslucitelneho s novymi konstrukcema nechapu.
Radek Vicek
Dne 2.1.2013 13:30, Andrej Jancura napsal(a):
Za uvahu by skor stalo zistit meranim
> osciloskopom preco sa ta dioda hreje a podla toho zvolit dalsi
> engineering. Moznosti je viacej.
Tento e-mail včetně příloh může obsahovat důvěrné informace. Jestliže nejste zamýšlený adresát tohoto e-mailu, pak jakákoliv forma zveřejnění, tisk, kopírování, distribuce nebo šíření tohoto e-mailu a připojených příloh je přísně zakázáno. Pokud obdržíte tento e-mail omylem, oznamte to neprodleně jeho odesilateli a okamžitě tento e-mail včetně jeho příloh trvale vymažte ze svého systému. Odesilatel e-mailu neodpovídá za jakoukoliv škodu způsobenou modifikacemi či zpožděním přenosu e-mailu.
This e-mail and any attached files may contain confidential information. If you are not the intended addressee of this e-mail, you are hereby notified that any disclosure, printing, copying, distribution or dissemination of this e-mail and any attached files is strictly prohibited. If you receive this e-mail in error, please immediately notify the sender and permanently delete this e-mail and its attachments from your system. The sender of this e-mail does not accept liability for any damage that may be caused by any modifications or delay in the transmission of it.
Další informace o konferenci Hw-list